可程式冷熱沖擊試驗箱是集研發(fā)、設計、生產(chǎn)、銷售恒溫恒濕箱,恒溫恒濕機于一體的專業(yè)環(huán)境測試設備企業(yè).公司擁有國外*的機械加工設備,高精度激光切割機,日本AMADA數(shù)控折彎機等現(xiàn)代化的鈑金加工及環(huán)境設備組裝生產(chǎn)線. 目前,公司設計生產(chǎn)的可程式恒溫恒濕試驗機,恒溫恒濕試驗箱,冷熱沖擊試驗箱,環(huán)境試驗箱,燒機老化房,高低溫試驗箱,鹽水噴霧試驗機,拉力試驗機及精密烘箱.振動臺等系列產(chǎn)品已廣泛應用于電工、電子、家電、通信、計算機、航空航天、兵器、汽車、船舶、石化等行業(yè)和領(lǐng)域,成為其縮短開發(fā)周期,提升產(chǎn)品質(zhì)量的*的得力助手.
　　可程式冷熱沖擊試驗箱工作原理如下:
　　1、低溫儲存箱:箱內(nèi)溫度狀態(tài)由風道中的加熱器、蒸發(fā)器以及風機的工作狀態(tài)決定.經(jīng)過膨脹閥節(jié)流流出的制冷劑進入工作室內(nèi)蒸發(fā)器后,吸收工作室內(nèi)熱量并氣化,使工作室溫度降低;氣化后的工質(zhì)被壓縮機吸入并壓縮成高溫、高壓氣體進入冷凝器中被冷凝成液體,再經(jīng)篩檢程式,zui后通過膨脹閥節(jié)流后,重新又進入工作室內(nèi)蒸發(fā)器中吸熱并氣化然后再被壓縮機吸入壓縮.如此往復回圈工作,使工作室溫度降到設置的溫度要求
　　2、高溫儲存箱:中央控制器從感溫元件檢測即時信號,與設定溫度信號進行比較,得到比較信號,由儀表PID邏輯電路輸出信號控制固態(tài)繼電器的導通或關(guān)斷的時間比例調(diào)節(jié)加熱器輸出功率大小,從而達到自動控溫的目的.
　　3、沖擊溫度測試箱:由儀表自動控制高低溫氣閥,在低溫或高溫儲存室之間切換,分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng),迅速達到試驗的目標溫度.
　　試驗箱內(nèi)溫度狀態(tài)由風道中的加熱器、蒸發(fā)器、及風機的工作狀態(tài)決定.試驗箱工作室內(nèi)采用強制軸流"散性"式回圈風工作,可以大大提高設備運行的波動度、均勻度等參數(shù).
　　可程式冷熱沖擊試驗箱機體特點:
　　1、LED高低溫循環(huán)沖擊試驗箱外箱形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進、選材考究,具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能.
　　2、設備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物*靜止,應用風路切換方式將冷,熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)沖擊測試目的.
　　3、采用的計測裝置,控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單,學習容易,穩(wěn)定可靠,中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設定程序曲線.
　　4、具有100個試驗規(guī)范獨立設定,沖擊時間999小時59<分鐘,循環(huán)周期1~999次可設定,可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn),zui大程度上實現(xiàn)自動化,減輕操作人員工作量,可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行;箱體左側(cè)有一直徑50mm之測試孔,可供外加電源負載配線測試部件.
　　5、可獨立設定高溫、低溫及沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能,具備高低溫試驗機的功能.可獨力當作高溫箱或低溫箱使用,一機三用.
　　6、具備全自動,高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高.
　　7、先進科學的空氣流通循環(huán)設計,使室內(nèi)溫度均勻,避免任何死角;完備的安全保護裝置,避免了任何可能發(fā)生安全隱患,保證設備的長期可靠性.
　　8、可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜.
　　9、出風口于回風口感知器檢測控制,風門機構(gòu)切換時間為10秒內(nèi)完成,沖擊溫度恢復時間為5分鐘內(nèi)完成.
　　10、運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置.
　　用途
　　可程式冷熱沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具.